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Micro-Measurements MMF323482
C2A-06-G1350-120/SP70 STACKED RO
- Número da peça do fabricante :MMF323482
- Fabricante :Micro-Measurements
- Número de peça Dasenic :MMF323482-DS
- Ficha de dados :
MMF323482 Ficha de dados - Descrição : C2A-06-G1350-120/SP70 STACKED RO
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Micro-Measurements MMF323482 especificações técnicas, atributos, parâmetros.
Category:Sensor Devices/Strain Gauges
Status do produto:Obsolete
Temperatura de operação:-60 ~ 150°F (-50 ~ 65°C)
Comprimento - Total:0.20" (5.1mm)
Largura - Geral:0.20" (5.1mm)
Resistência:120 Ohms
Resistência Tolerância:±0.6%
Tipo de padrão:Stacked Rosette
Faixa de tensão:±3%
Duração - Ativo:0.039" (1.00mm) per section
Comprimento - Padrão geral:0.144" (3.66mm)
Largura - Ativo:0.045" (1.14mm) per section
Largura - Padrão geral:0.147" (3.73mm)
EU Status RoHS:RoHS Compliant
Estado do REACH:Vendor is not defined
ECCN dos EUA:Provided as per user requirements
Status RoHS da China:Orange Symbol: Safe for use during the environmental protection period
Micro-Measurements MMF323482
Micro-Measurements se dedica ao desenvolvimento, fabricação e comercialização de sensores para medição de deformação de alta precisão. Oferecemos uma seleção completa de sensores, strain gages, equipamentos e revestimentos PhotoStress®, sistemas de aquisição de dados (DAQ) e acessórios necessários para obter dados de tensão precisos e confiáveis. Especialistas em aviação, militar, espacial, agricultura e área médica dependem continuamente da precisão que nossos produtos oferecem em uma ampla gama de aplicações, incluindo motores de foguete, equipamentos esportivos e de treinamento, membros protéticos, balanças de autoatendimento de supermercado e infraestrutura para pontes, túneis e represas. A Micro-Measurements foi fundada no início dos anos 1960. Poucos anos após sua fundação, tanto a Micro-Measurements quanto sua divisão irmã, Photolastics, tornaram-se parte da Vishay Intertechnology, Inc. O centro de pesquisa e desenvolvimento da Micro-Measurements está localizado perto de Raleigh, Carolina do Norte.
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